Команда специалистов из Массачусетского технологического института (MIT), Миннесотского университета и компании Samsung представила уникальную камеру нового типа, которая позволяет сканировать сквозь стены. О разработке сообщается на официальном сайте MIT.
Как уточняется, камера способна улавливать терагерцевое излучение при комнатной температуре и давлении с высокой чувствительностью. Длина волны такого излучения находится между частотами микроволн и видимого света, что означает возможность проникновения через многие неметаллические материалы.
Кроме того, камера может определять рельефность поверхности различных предметов.
Авторы предполагают использование устройства для широкого спектра задач, например, для служб безопасности аэропортов, промышленного контроля качества и даже астрофизических наблюдений, поскольку стоимость новинки будет гораздо меньше, чем у существующих терагерцевых камер.
